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            1. OEDU-QEDK 量子擦除實驗套件

              產(chǎn)品推薦

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              產(chǎn)品說明

              ? Oeabt教學演示系列產(chǎn)品旨在通過各種經(jīng)典實驗來促進物理學、光學、光子學以及各種新興研究領域的發(fā)展。每種教學套件包含所有必需的組件和一本說明手冊,手冊中有詳細的裝置說明和教學操作指導。

              量子擦除實驗基本結構包括兩個分光器、兩個反射鏡、一個合束器和一個偏振器。


              光源組件
              項目
              型號
              備注
              數(shù)量
              ?12mm激光源
              OM-12A515-3-G
              波長515nm,功率3mW
              1
              激光器安裝孔
              POL-12
              安裝孔徑:?12mm
              1
              籠式調(diào)整鏡架
              MC-S1
              平滑孔款,兼容?1英寸光元件,±5°俯仰±3mm平移
              1


              反射鏡組件
              項目
              型號
              備注
              數(shù)量
              鋁膜反射鏡
              TFA-C1
              ?25.4*5mm,適用波長:380-780nm
              2
              二軸可調(diào)鏡架
              MK100-A
              兼容?1英寸光元件,可調(diào)傾斜±4°
              1
              三軸可調(diào)鏡架 OST-K100
              兼容?1英寸鏡片,可俯仰調(diào)節(jié)±4o~±6o
              1

              分光器組件
              項目
              型號
              備注
              數(shù)量
              分光平片
              PSMH-S38-M
              38*32*1.1mm,適用波長:400-700nm,入射角45°
              2
              傾斜調(diào)整安裝座
              LB-A3?
              ±4°俯仰,Z軸±2mm
              2
              矩形安裝架
              LFM1-A
              安裝厚度<3mm,寬度在28-40mm的光元件
              2


              透鏡組件
              項目
              型號
              備注
              數(shù)量
              平凸透鏡
              OLB-I1-70PM
              ?1英寸,f=70mm,增透膜:400-700nm
              1
              透鏡安裝座
              SM-R1
              兼容?1英寸光元件,SM1螺紋
              1

              偏振器組件
              項目
              型號
              備注
              數(shù)量
              線偏振片
              PBSW-C1
              ?1英寸,適用波長:400-78nm
              3
              旋轉安裝座
              SM-RP1
              360°旋轉,分度2°;零刻度線分度1°;游標刻度5弧分
              3


              機械組件
              項目
              型號
              備注
              數(shù)量
              面包板
              OHD4060-A
              400*600*13mm,M6螺孔陣列,5個沉孔
              1
              接桿支架
              CAT57-T
              伸縮式接桿支架,L=57mm,旋扭高度8mm,兼容?12.7mm接桿,M6螺孔
              9
              PCAH2-S
              ?12.7mm接桿,L=50.8mm,一端M4一端M6螺孔
              9
              PCA31-S
              接桿底盤,M6螺栓
              9
              M-BASE-C
              叉式壓板,固定接桿支架位置
              9
              光斑觀察白屏板
              PIS-A2
              白板:148*90*4.4mm
              2
              CFP0.5-S【M4】
              白屏板接桿,?1英寸,L=12.7mm,
              2
              工具配件
              MHR-B1
              磁性準直尺,帶公/英制刻度
              2
              SPW-TH
              扳手工具架,含手擰螺絲*7顆和六角扳手*7把
              1
              SPW-SM150
              卡環(huán)扳手,L=50mm,帶刻度,兼容SM1卡環(huán)
              1
              螺絲包
              附贈
              -
              示意圖
              通用參數(shù)

              ?量子擦除實驗


              -實驗摘要

              量子擦除實驗進一步驗證了微觀粒子同時具有波動性和粒子性,即所謂的波粒二象性。在傳統(tǒng)的雙縫干涉實驗中,粒子通過雙縫后會在屏幕上形成干涉圖樣,這表明粒子具有波動性。但測量粒子通過哪條縫時會破壞干涉圖樣,顯現(xiàn)出粒子性。這使得我們無法同時觀測波動性和粒子性。量子擦除實驗中,單光子進入馬赫曾德干涉儀中。光子通過兩個線偏振片“標記”為具有水平或垂直偏振態(tài),指示它們從哪路通過干涉儀。干涉圖案(波動性質(zhì))和路徑信息(粒子性質(zhì))無法同時測量,因為測量路徑信息會破壞干涉圖案。第三個偏振片放在兩路光合束后的位置,它將“擦除”路徑信息,使光子再次失去標記,因此又能恢復干涉圖案。

              本套件沒有像原始量子擦除實驗那樣使用單光子,而是使用了綠色連續(xù)波(CW)激光光源,它發(fā)出的光束肉眼可見。雖然實驗結果可以用經(jīng)典物理學來解釋,但用量子力學來描述則可以完美地類比單光子量子橡皮擦實驗。




              ——實驗原理:

              具體步驟如下:

              (1)雙縫干涉:粒子(如光子)通過雙縫后,在屏幕上形成干涉圖樣,顯示其波動性。

              (2)路徑信息記錄:當探測器記錄粒子通過哪一條縫時,干涉圖樣消失,表明粒子的波動性被破壞,顯示出粒子性。

              (3)量子擦除:引入量子擦除器(如偏振器或糾纏光子),通過特定操作“擦除”路徑信息,恢復干涉圖樣,即使路徑信息已被記錄。


              ——實驗目的:

              (1)驗證波粒二象性:展示微觀粒子(如光子)在不同實驗條件下的波動性和粒子性。

              (2)研究量子測量的影響:探討測量如何影響量子系統(tǒng)的狀態(tài),揭示量子測量對粒子行為的影響。

              (3)量子糾纏與非局域性:通過量子擦除器和糾纏態(tài),展示量子糾纏和非局域性的現(xiàn)象。

              (4)教育和科普:通過直觀的實驗幫助理解量子力學基本概念,激發(fā)學習和研究興趣。



              ——套件清單

              量子擦除實驗基本結構包括兩個分光器、兩個反射鏡、一個合束器和一個偏振器。


              ——實驗內(nèi)容




              OEDU-QEDK 量子擦除實驗套件

              ? 驗證波粒二象性:展示微觀粒子(如光子)在不同實驗條件下的波動性和粒子性。

              ? 研究量子測量的影響:探討測量如何影響量子系統(tǒng)的狀態(tài),揭示量子測量對粒子行為的影響。

              ? 量子糾纏與非局域性:通過量子擦除器和糾纏態(tài),展示量子糾纏和非局域性的現(xiàn)象。

              ? 教育和科普:通過直觀的實驗幫助理解量子力學基本概念,激發(fā)學習和研究興趣。

              量子擦除實驗通過展示測量對量子狀態(tài)的影響,以及擦除測量信息后系統(tǒng)恢復的現(xiàn)象,深刻揭示了量子力學的基本原理。

              型號
              規(guī)格
              工程圖
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