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            1. OEDU-MZIEK 馬赫曾德爾干涉儀教學套件

              產(chǎn)品推薦

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              產(chǎn)品說明

              ? Oeabt教學演示系列產(chǎn)品旨在通過各種經(jīng)典實驗來促進物理學、光學、光子學以及各種新興研究領(lǐng)域的發(fā)展。每種教學套件包含所有必需的組件和一本說明手冊,手冊中有詳細的裝置說明和教學操作指導。

              馬赫-曾德爾干涉儀基本結(jié)構(gòu)包括兩個分光器、兩個反射鏡和一個合束器。

              光源組件
              項目
              型號
              備注
              數(shù)量
              ?12mm激光源
              OM-12A520-3-G
              波長520nm,功率3mW
              1
              激光器安裝孔
              POL-12
              安裝孔徑:?12mm
              1
              籠式調(diào)整鏡架
              MC-S1
              平滑孔款,兼容?1英寸光元件,±5°俯仰±3mm平移
              1


              反射鏡組件
              項目
              型號
              備注
              數(shù)量
              鋁膜反射鏡
              TFA-C1
              ?25.4*5mm,適用波長:380-780nm
              2
              二軸可調(diào)鏡架
              MK100-A
              兼容?1英寸光元件,可調(diào)傾斜±4°
              1
              三軸可調(diào)鏡架 OST-K100
              兼容?1英寸鏡片,可俯仰調(diào)節(jié)±4o~±6o
              1

              分光器組件
              項目
              型號
              備注
              數(shù)量
              分光平片
              PSMH-S38-M
              38*32*1.1mm,適用波長:400-700nm,入射角45°
              2
              傾斜調(diào)整安裝座
              LB-A3?
              ±4°俯仰,Z軸±2mm
              2
              矩形安裝架
              LFM1-A
              安裝厚度<3mm,寬度在28-40mm的光元件
              2

              透鏡組件
              項目
              型號
              備注
              數(shù)量
              平凸透鏡
              OLB-I1-70PM
              ?1英寸,f=70mm,增透膜:400-700nm
              1
              透鏡安裝座
              SM-R1
              兼容?1英寸光元件,SM1螺紋
              1

              機械組件
              項目
              型號
              備注
              數(shù)量
              面包板
              OHD4060-A
              400*600*13mm,M6螺孔陣列,5個沉孔
              1
              接桿支架
              CAT57-T
              伸縮式接桿支架,L=57mm,旋扭高度8mm,兼容?12.7mm接桿,M6螺孔
              6
              PCAH2-S
              ?12.7mm接桿,L=50.8mm,一端M4一端M6螺孔
              6
              PCA31-S
              接桿底盤,M6螺栓
              6
              M-BASE-C
              叉式壓板,固定接桿支架位置
              6
              光斑觀察白屏板
              PIS-A2
              白板:148*90*4.4mm
              2
              CFP0.5-S【M4】
              白屏板接桿,?1英寸,L=12.7mm,
              2
              工具配件
              MHR-B1
              磁性準直尺,帶公/英制刻度
              2
              SPW-TH
              扳手工具架,含手擰螺絲*7顆和六角扳手*7把
              1
              SPW-SM150
              卡環(huán)扳手,L=50mm,帶刻度,兼容SM1卡環(huán)
              1
              螺絲包
              附贈
              -

              示意圖
              通用參數(shù)

              ?馬赫曾德爾干涉儀實驗


              -實驗摘要

              馬赫-曾德爾干涉儀(Mach-Zehnder Interferometer)的設(shè)計初衷主要是為了滿足對精確光學測量的需求,并解決當時其他干涉儀在特定應用中的局限性。

              其實驗原理基于光的干涉現(xiàn)象,測量兩束準直的光束之間的相位偏差。這種相位偏差可用于確定小位移、透射式光學器件的透射波前誤差、透明材料的折射率、風洞中的空氣流動等等。

              它廣泛應用于物理學、光學和工程學等領(lǐng)域,尤其是在精密測量和傳感中。



              ——實驗原理:

              具體步驟如下:

              (1)光束分離:一束入射光被第一個分光器分成兩條光路。

              (2)光路傳播:這兩條光路分別通過各自的反射鏡,被反射后繼續(xù)前進。由于反射鏡的位置不同,兩條光路的長度通常也不同。

              (3)光束重組:在第二個分光器處,這兩條光路重新組合,形成干涉圖案。如果兩束光的光程差為整數(shù)倍的波長,干涉會產(chǎn)生增強(相長干涉)。如果光程差為半波長的奇數(shù)倍,干涉會產(chǎn)生減弱(相消干涉)。

              (4)干涉圖案觀察:重組后的光束在觀察屏幕上形成干涉圖樣,通過分析這些干涉條紋的位置和變化,可以獲得光程差的信息。


              ——實驗目的:


              (1)相位測量:測量光束經(jīng)過不同路徑時的相位變化,這對于研究材料的折射率變化、厚度變化等非常重要。

              (2)干涉圖樣分析:通過觀察和分析干涉圖樣,可以精確測量光程差,應用于各種精密測量。

              (3)傳感和檢測:用于檢測微小的物理量變化,例如溫度變化、壓力變化、振動等。

              (4)光波波前分析:用于分析波前畸變和修正光學系統(tǒng)。

              (5)基礎(chǔ)研究:廣泛用于量子力學和相對論實驗、光學成像、光學通信等基礎(chǔ)研究,如量子糾纏、反事實確定性、量子擦除實驗和量子芝諾效應等。

              (6)流動可視化:觀察風洞中氣體流動的理想選擇,常用于空氣動力學、等離子物理學和傳熱學領(lǐng)域,測量氣體的壓強、密度和溫度變化。


              ——套件清單

              馬赫-曾德爾干涉儀基本結(jié)構(gòu)包括兩個分光器、兩個反射鏡和一個合束器。


              ——實驗內(nèi)容






              OEDU-MZIEK 馬赫曾德爾干涉儀教學套件

              ? 相位測量:測量光束經(jīng)過不同路徑時的相位變化,這對于研究材料的折射率變化、厚度變化等非常重要。

              ? 干涉圖樣分析:通過觀察和分析干涉圖樣,可以精確測量光程差,應用于各種精密測量。

              ? 傳感和檢測:用于檢測微小的物理量變化,例如溫度變化、壓力變化、振動等。

              ? 光波波前分析:用于分析波前畸變和修正光學系統(tǒng)。

              ? 基礎(chǔ)研究:廣泛用于量子力學和相對論實驗、光學成像、光學通信等基礎(chǔ)研究,如量子糾纏、反事實確定性、量子擦除實驗和量子芝諾效應等。

              ? 流動可視化:觀察風洞中氣體流動的理想選擇,常用于空氣動力學、等離子物理學和傳熱學領(lǐng)域,測量氣體的壓強、密度和溫度變化。

              馬赫-曾德爾干涉儀(Mach-Zehnder Interferometer)的設(shè)計初衷主要是為了滿足對精確光學測量的需求,并解決當時其他干涉儀在特定應用中的局限性。

              型號
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